
Máy Phân Tích Kính Hiển Vi Điện Tử Bruker Model XFlash 7
Hãng: Bruker (USA)
Với khả năng phân tích nhanh chóng với thông lượng lên đến 1.000.000 cps, XFlash 7 giúp rút ngắn thời gian kiểm tra, đồng thời đảm bảo độ chính xác vượt trội. Hệ thống được thiết kế để đáp ứng nhu cầu nghiên cứu và kiểm soát chất lượng trong nhiều lĩnh vực như điện tử, địa chất, khoa học vật liệu, sinh học và luyện kim.
Liên hệ
Tổng quan
Máy Phân Tích Kính Hiển Vi Điện Tử (Energy Dispersive Spectrometry) Bruker Model XFlash 7
Máy Phân Tích Kính Hiển Vi Điện Tử Bruker XFlash 7 là hệ thống tiên tiến, được thiết kế để cung cấp khả năng phân tích thành phần nguyên tố với độ chính xác cao nhất. Với công nghệ Energy-Dispersive Spectrometry (EDS) tiên tiến, XFlash 7 tối ưu hóa hiệu suất phân tích cho kính hiển vi điện tử quét (SEM), kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ (FIB-SEM) và kính hiển vi đầu dò điện tử (EPMA). Hãy cùng Năng Lực tìm hiểu chi tiết hơn về sản phẩm thông qua bài viết dưới đây nhé!
Xem thêm: Máy Cắt Đường Ghép Mí Lon (Metop Seam Saw) METOP Model MSS-3LT
Nét Đặc Trưng Của XFlash 7
Hiệu suất phân tích vượt trội
- Thông lượng phân tích thực lên đến 1.000.000 cps giúp tối ưu hóa tốc độ và độ chính xác trong nghiên cứu.
- Cơ sở dữ liệu nguyên tử mở rộng với hơn 2.200 vạch nguyên tố giúp xác định chính xác thành phần của mẫu vật.
- Thiết kế góc thu nhận tia X lớn nhất (> 1.1 sr) giúp tối đa hóa tốc độ thu nhận dữ liệu, giảm thiểu tổn thất thông tin.
Công nghệ tiên tiến cho phân tích nguyên tố
-
- Hệ thống phát hiện EDS mới nhất từ Bruker giúp tăng cường khả năng phân tích nguyên tố với độ phân giải năng lượng tốt nhất.
- Công nghệ Slim-line với thiết kế góc thu lớn giúp nâng cao độ chính xác và độ nhạy trong thu nhận dữ liệu.
- Khả năng thay thế mô-đun SDD ngay tại chỗ giúp giảm thiểu thời gian chết của hệ thống.
Tích hợp đa phương pháp phân tích
- Hỗ trợ EDS, WDS, EBSD, và Micro-XRF trong một nền tảng phần mềm duy nhất (ESPRIT Analysis Platform), giúp người dùng dễ dàng thao tác và quản lý dữ liệu.
- Thu thập dữ liệu nhanh chóng ngay cả với các mẫu khó, có hình dạng phức tạp hoặc chứa nguyên tố có phổ chồng lấn.
Xem thêm: Dụng Cụ Cắt Mí Lon (Manual Seam Cutter) METOP MSC (2025)
Ứng Dụng Của XFlash 7
Bruker XFlash 7 được sử dụng rộng rãi trong nhiều lĩnh vực nghiên cứu và sản xuất. Dưới đây là một số ứng dụng tiêu biểu:
Ngành công nghiệp điện tử & bán dẫn
- Phân tích thành phần bề mặt và cấu trúc liên kết của vi mạch bán dẫn (IC).
- Lập bản đồ nguyên tố với độ phân giải không gian siêu cao, hỗ trợ nghiên cứu về vi điện tử.
- Phân tích dư lượng khắc trên wafer để tối ưu hóa quy trình sản xuất.
- Xác định thành phần các lớp liên kết trong công nghệ FinFET 7nm.
Địa chất & khoáng vật học
- Phân tích sự tiến hóa của khoáng chất núi lửa qua hàng chục nghìn năm.
- Lập bản đồ phân bố nguyên tố trên mẫu thiên thạch mà không cần chuẩn bị mẫu.
- Định lượng thành phần nguyên tố của mẫu địa chất có bề mặt không đồng nhất.
- Phân tích mặt cắt mỏng khoáng vật trong thời gian ngắn.
Khoa học đời sống
- Nghiên cứu sự phân bố khoáng chất trong thực vật, đặc biệt là các mẫu tươi sống.
- Lập bản đồ nguyên tố trong sinh vật biển, hỗ trợ nghiên cứu về môi trường và sinh thái.
- Phân tích cấu trúc sinh học của màng sinh học vi khuẩn để hiểu rõ hơn về sự hình thành và phát triển của khoáng sinh học.
- Xác định thành phần nguyên tố của mẫu sinh học có hình dạng phức tạp bằng hệ thống phát hiện EDS kép.
Khoa học vật liệu
- Phân tích vật liệu gốm boride chịu nhiệt độ cực cao ở điều kiện dòng điện thăm dò thấp.
- Giải quyết vấn đề chồng lấn phổ nguyên tố trong vật liệu nhiệt điện bằng phương pháp fitting tự động.
- Xác định thành phần và ranh giới hạt trong hợp kim siêu bền ở điện thế thấp.
Luyện kim
- Lập bản đồ nguyên tố nhanh chóng trên mối hàn thép Zr để kiểm tra chất lượng sau hàn.
- Phân biệt pha hợp kim trong hợp kim đơn tinh thể, giúp xác định chính xác nồng độ nguyên tố.
- Nghiên cứu lớp phủ carbide vonfram trên công cụ cắt kim loại để tối ưu hóa hiệu suất cắt gọt.
Công nghệ nano
- Lập bản đồ nguyên tố siêu phân giải của hạt nano silicon-core-carbon-shell, giúp nghiên cứu vật liệu nano tiên tiến.
Xem thêm: Máy Cắt Đường Ghép Lon (Metop Seam Saw) METOP MSS-2F
Ưu Điểm Vượt Trội Của XFlash 7
- Tốc độ phân tích nhanh nhất trên thị trường giúp tiết kiệm thời gian nghiên cứu.
- Công nghệ tiên tiến, độ phân giải cao mang đến kết quả chính xác nhất.
- Khả năng phân tích mẫu phức tạp, có cấu trúc nano mà không cần chuẩn bị mẫu đặc biệt.
- Tích hợp đa phương pháp phân tích giúp người dùng có cái nhìn toàn diện về mẫu vật.
Những Lý Do Nên Mua Máy Phân Tích Kính Hiển Vi Điện Tử Tại Năng Lực
- Công ty Công nghệ Năng Lực là đối tác chính thức phân phối Máy Phân Tích Kính Hiển Vi Điện Tử hàng đầu tại Việt Nam, cam kết cung cấp sản phẩm chính hãng với giá cả cạnh tranh nhất thị trường. Với uy tín trên thị trường và chế độ hẫu mãi tốt, Công Nghệ Năng Lực đã nhận được sự tin tưởng từ khách hàng nhờ vào chất lượng hàng đầu của các dòng sản phẩm.
- Sản phẩm của chúng tôi được kiểm định chất lượng, nhập khẩu trực tiếp từ nhà máy bên Châu Âu, Mỹ, Úc, Nhật Bản,… và đáp ứng nhu cầu đa dạng của thị trường như: Máy Đo Độ Cứng, Máy SPECTROMAXx, Máy Kiểm Tra Đường Ghép Mí Lon,… Chúng tôi cam kết cung cấp sản phẩm này trên toàn quốc với giá cả cạnh tranh nhất.
- Chúng tôi có đội ngũ chuyên viên tư vấn chuyên sâu sẽ hỗ trợ khách hàng về chi tiết sản phẩm, hướng dẫn sử dụng hay những thứ liên quan đến vấn đề mà doanh nghiệp bạn đang gặp phải. Chúng tôi sẽ cung cấp những giải pháp tối ưu nhất!
- Ngoài ra Công Nghệ Năng Lực Chúng Tôi luôn hướng đến trải nghiệm khách hàng, vì vậy chúng tôi có những chính sách bảo hành, bảo trì – bảo dưỡng, hiệu chuẩn với tất cả các thiết bị, máy móc mà chúng tôi cung cấp. Đảm bảo mang đến cho Khách hàng sự yên tâm tuyệt đối về dịch vụ khi mua hàng.
Tổng Kết
Máy Phân Tích Kính Hiển Vi Điện Tử XFlash 7 là giải pháp hàng đầu dành cho các phòng thí nghiệm, trung tâm nghiên cứu và doanh nghiệp sản xuất cần phân tích nguyên tố chính xác, nhanh chóng. Hãy liên hệ với Năng Lực ngay để được tư vấn chuyên sâu và nhận những ưu đãi hấp dẫn nhất thông qua hotline/zalo: 0976.299.749!
Thông số kỹ thuật
Model | XFlash® 7 – The Latest EDS Detector Series |
Ứng dụng chính | Quang phổ phân tán năng lượng (EDS) kết hợp với Kính hiển vi điện tử quét (SEM), hệ thống chùm ion hội tụ (FIB-SEM) và Máy phân tích vi điện tử (EPMA) |
Thế hệ máy dò | Thế hệ máy dò mới nhất |
Góc khối & Góc cất cánh | Góc khối lớn nhất và góc cất cánh cao nhất để thu thập tia X trên kính hiển vi điện tử |
Thông lượng | Thông lượng cao nhất , lên đến 1.000.000 cps (số xung mỗi giây) nhờ XPulse, công nghệ xử lý xung tiên tiến nhất |
Thời gian có kết quả | Nhanh hơn gấp 2 lần so với EDS thông thường |
Chất lượng dữ liệu | Đảm bảo chất lượng dữ liệu tốt nhất cho nghiên cứu |
Độ tin cậy | Kết quả đáng tin cậy không phụ thuộc vào kính hiển vi và điều kiện đo lường phân tích |
Hiệu suất nguyên tố nhẹ | Xuất sắc, sử dụng cửa sổ máy dò nguyên tố siêu nhẹ (SLEW). Có sẵn tùy chọn không cửa sổ |
Hệ thống làm mát | Làm mát bằng Peltier, không gây nhiễu hiệu suất kính hiển vi |
Bảo trì | Không rung, không cần bảo trì, tiêu thụ điện năng thấp nhất |
Chi phí sở hữu | Giảm thiểu thời gian ngừng hoạt động và chi phí sở hữu thông qua thiết kế các bộ phận có thể thay thế tại chỗ và kiểm tra sức khỏe trực tuyến theo yêu cầu |
Phần mềm | Vận hành tất cả các chức năng qua bộ phần mềm ESPRIT toàn diện của Bruker hoặc API (giao diện lập trình ứng dụng) |
Khả năng kết hợp | Có thể kết hợp tối đa bốn máy dò EDS cùng với EBSD, WDS và micro-XRF trên SEM |
Độ phân giải năng lượng | < 129 eV tại Mn Kα theo ISO 15632:2021 (ví dụ: 129 eV, 126 eV, 123 eV tùy mẫu ) |
Tốc độ đếm đầu vào tối đa (ICR) | Lên đến 2.700 kcps |
Phạm vi phát hiện | Beryllium (4) đến Californium (98) |
Tốc độ chèn/rút máy dò tối đa | 10 mm/s với độ chính xác ±25 μm |
Mức tiêu thụ điện năng | < 45 W (không bao gồm PC và màn hình) |
Năng lượng phát hiện tối đa | 80 keV |
Độ phân tán năng lượng | Xuống đến 2.5 eV mỗi kênh (1.25 eV mỗi kênh theo yêu cầu) |
Độ ổn định vị trí đỉnh (trôi) | < 1 eV/ngày |
Dịch chuyển đỉnh theo chức năng OCR | < 1 eV |
Trọng lượng | Khoảng 7.5 kg (tùy thuộc vào kính hiển vi) |
Định lượng | Phân tích định lượng tự động hoàn toàn hoặc tương tác cho tất cả các cấu hình bộ lọc và tốc độ đếm, lên đến 1.000.000 cps tốc độ đếm đầu ra sử dụng phần mềm ESPRIT |
Tỷ lệ đỉnh trên nền | > 15.000:1 theo ISO 15632:2021 |
Hiệu chỉnh chồng chập (Pile up) | Phần cứng và phần mềm |
Tùy chọn cửa sổ SDD | Cửa sổ nguyên tố siêu nhẹ , không cửa sổ , các cửa sổ bảo vệ khác |
Phụ kiện |
|
Chứng nhận |
|
Câu hỏi
Chưa có câu hỏi nào.